AXIOM系列鍍層測厚儀
功能：
1、測量方向：由上向下
2、鍍層元素范圍：Al鋁～U鈾
3、電壓：50kV（1.2mA）
4、探測器（可選）：正比計數(shù)器、Si-Pin、SDD硅漂移
5、單準直器：0.3mmØ、0.5mmØ,
6、多準直器：0.1、0.2、0.3、0.5、0.05X0.05、0.05X0.25自動6位準直器
7、鍍層層數(shù)：多至5層
8、測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米
9、測量時間：30秒-180秒
10、操作平臺：400 X 420 mm
11、樣品倉尺寸：500 x 489 x 172 mm (長x寬x高)
12、儀器尺寸：500 x 652 x 500 mm (長x寬x高)
13、同時定量測量8個元素。
14、定性鑒定材料達24個元素。
15、自動Z軸樣品臺
16、自動XY平臺操控
17、40X高清CCD攝像頭